Aehr Test Systems (AEHR), fournisseur mondial d'équipements de test et de conditionnement de semi-conducteurs, a annoncé aujourd'hui l'expédition de la commande initiale d'un important client du secteur de la photonique au silicium pour une version haute puissance nouvellement développée de son système FOX-XP™. Ce système est conçu pour le conditionnement et la stabilisation au niveau de la tranche de production en grand volume des circuits intégrés (CI) photoniques en silicium les plus récents.
Le système FOX-XP, capable de tester plusieurs plaquettes simultanément, a été conçu pour faciliter les tests de production de masse rentables des plaquettes destinées aux circuits intégrés photoniques avancés. Ces circuits intégrés peuvent nécessiter deux à quatre fois plus d'énergie par plaquette pour le conditionnement et la stabilisation des composants photoniques en silicium. Ils sont destinés à être utilisés dans les secteurs émergents des entrées/sorties optiques ou de l'optique co-packagée.
Gayn Erickson, président-directeur général d'Aehr Test Systems, a déclaré : "La livraison de cette version haute puissance nouvellement améliorée élargit le champ d'application du système FOX-XP. Nous avons réussi à augmenter les capacités et les avantages en mettant à niveau l'un des systèmes existants du client, tout en assurant la compatibilité avec tous les programmes de test antérieurs et futurs, les WaferPaks™ et les données de corrélation des plaquettes de plus faible puissance antérieures. Cela souligne notre volonté d'assurer la compatibilité sur l'ensemble de notre plateforme FOX."
"Notre optimisme à l'égard de l'industrie de la photonique sur silicium reste fort. Ce secteur englobe le marché existant des émetteurs-récepteurs photoniques pour les données et les télécommunications, ainsi que l'utilisation nouvelle des circuits intégrés photoniques en silicium dans la communication optique de puce à puce, que nous considérons comme une perspective de marché substantielle pour nos offres.
"Cette configuration avancée du système FOX-XP et les WaferPaks permettent de tester en parallèle jusqu'à 8 192 dispositifs optiques de haute puissance sur chacune des neuf tranches avant leur séparation individuelle et leur intégration dans un émetteur-récepteur à fibre optique pour les centres de données et l'infrastructure de télécommunications ou leur incorporation dans des optiques co-packagées pour la communication optique de puce à puce. De nombreuses entreprises, dont AMD, Nvidia, Intel, TSMC et GlobalFoundries, ont dévoilé des stratégies de produits pour des dispositifs tirant parti de la communication optique de puce à puce.
La dernière configuration du système FOX-XP avec des WaferPaks à haute puissance permet de tester jusqu'à 3 500 watts de puissance pour chaque plaquette et de manipuler simultanément jusqu'à neuf plaquettes. Il comprend également la plus récente conception de chambre d'Aehr, qui occupe moins d'espace et est compatible avec le WaferPak AutoAligner d'Aehr, qui a commencé à être distribué l'année dernière. Ce système offre aux clients d'Aehr une gestion automatisée du matériel avec un fonctionnement sans contact pour des plaquettes de 6 à 12 pouces, en utilisant des conteneurs de plaquettes standard et des Front Opening Unified Pods (FOUP). Il peut également accueillir des robots mobiles et des systèmes aériens pour le transport des plaquettes dans les FOUP.
Les systèmes FOX-XP et FOX-NP, ainsi que les WaferPaks exclusifs, sont conçus pour les tests fonctionnels et le conditionnement/cyclage des semi-conducteurs de puissance au carbure de silicium et au nitrure de gallium, des circuits intégrés photoniques au silicium et d'autres composants optiques, des capteurs 2D et 3D, des mémoires flash, des capteurs magnétiques, des microcontrôleurs et d'autres circuits intégrés avancés sous forme de plaquettes avant leur assemblage dans des boîtiers empilés à une ou plusieurs puces, ou sous forme de puces ou de modules séparés.
À propos d'Aehr Test Systems
Basé à Fremont, en Californie, Aehr Test Systems est un important fournisseur de solutions de test pour l'examen, le conditionnement et la stabilisation des dispositifs semi-conducteurs sous forme de plaquettes, de matrices séparées et de pièces emballées. L'entreprise a installé de nombreux systèmes dans le monde entier. La demande croissante de qualité, de fiabilité, de sûreté et de sécurité des semi-conducteurs utilisés dans diverses applications, telles que les véhicules électriques, les systèmes de recharge des véhicules électriques, les sources d'énergie renouvelables comme le solaire et l'éolien, les infrastructures informatiques, de données et de télécommunications, ainsi que la mémoire et le stockage à semi-conducteurs, entraîne un besoin de tests supplémentaires, une augmentation de la capacité et de nouvelles opportunités pour les produits et solutions d'Aehr Test. Aehr a développé et lancé plusieurs produits innovants, notamment la famille de systèmes de test et de conditionnement FOX-PTM, l'aligneur FOX WaferPakTM, le contacteur FOX WaferPak, le transporteur FOX DiePak® et le chargeur FOX DiePak. Les systèmes FOX-XP et FOX-NP sont des systèmes complets de test et de conditionnement de contacts de plaquettes et de plaquettes/modules séparés, capables de tester, de conditionner et de stabiliser un large éventail de dispositifs, tels que les semi-conducteurs de puissance de pointe à base de carbure de silicium et autres, les capteurs 2D et 3D pour téléphones mobiles, tablettes et autres dispositifs informatiques, les semi-conducteurs de mémoire, les processeurs, les microcontrôleurs, les systèmes sur puces, la photonique et les composants optiques intégrés. Le système FOX-CP est une solution de test compacte et abordable pour les dispositifs logiques, mémoriels et photoniques, et constitue le dernier ajout à la gamme de produits FOX-P. Le contacteur FOX WaferPak comprend un contacteur unique pour plaquettes entières qui peut tester des plaquettes jusqu'à 300 mm, ce qui permet aux fabricants de circuits intégrés d'effectuer des tests, de conditionner et de stabiliser des plaquettes entières sur les systèmes FOX-P. Le FOX DiePak Carrier permet de tester, de conditionner et de stabiliser des matrices nues séparées et des modules avec jusqu'à 1024 dispositifs en parallèle par DiePak sur les systèmes FOX-NP et FOX-XP, en gérant jusqu'à neuf DiePaks simultanément. Pour plus de détails, veuillez consulter le site web d'Aehr Test Systems à l'adresse www.aehr.com.
Déclaration de la sphère de sécurité
Ce communiqué de presse contient des déclarations prospectives spécifiques telles que définies par la section 27A de la loi sur les valeurs mobilières de 1933 et la section 21E de la loi sur les échanges de valeurs mobilières de 1934. Les déclarations prospectives se rapportent généralement à des événements futurs ou aux performances financières ou opérationnelles futures d'Aehr. Dans certains cas, les déclarations prospectives peuvent être identifiées par des termes tels que "peut", "sera", "devrait", "s'attend à", "planifie", "anticipe", "pourrait", "a l'intention", "cible", "projets", "envisage", "croit", "estime", "prédit", "potentiel" ou "continue", ou la forme négative de ces termes ou d'autres termes comparables liés aux projections, à la stratégie, aux priorités, aux plans ou aux intentions d'Aehr. Les énoncés prospectifs contenus dans ce communiqué de presse comprennent, sans s'y limiter, les besoins et commandes futurs anticipés des clients actuels et potentiels d'Aehr, les prévisions de réservations de consommables WaferPakTM et DiePak exclusifs, ainsi que les attentes concernant la demande à long terme pour les produits d'Aehr et l'attrait des marchés clés. Les déclarations prospectives contenues dans ce communiqué de presse sont également soumises à d'autres risques et incertitudes, y compris ceux décrits plus en détail dans les récents formulaires 10-K et 10-Q d'Aehr, ainsi que dans d'autres documents déposés auprès de la Securities and Exchange Commission (Commission des opérations de bourse). Aehr ne s'engage pas à mettre à jour les informations contenues dans les déclarations prospectives après la date du présent communiqué de presse.
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SOURCE : Aehr Test Systems
Voir le communiqué de presse original sur accesswire.com
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